System und Verfahren zum Prüfen von Oberflächendefekten auf einem Prüfobjekt

Die vorliegende Erfindung betrifft ein System (1) zum Prüfen einer Oberfläche eines Prüfkörpers (3), wobei das System aufweist: Eine erste Quelle (4) und eine zweite Quelle (5), wobei die erste Quelle und die zweite Quelle derart ausgestaltet sind, dass die erste Quelle in einem Betrieb des Systems eine erste elektromagnetische Strahlung in einem ersten Wellenlängenbereich und die zweite in einem zweiten Wellenlängenbereich abstrahlt, wobei die erste und die zweite Quelle derart angeordnet sind, dass sie aus einer ersten und aus einer zweiten Beleuchtungsrichtung beleuchten (7, 8), und wobei die erste und die zweite Beleuchtungsrichtung voneinander verschieden sind, eine erste Kamera (12) zum Erfassen eines ersten Bildes des Prüfkörpers aus einer ersten Beobachtungsrichtung (13) und eine Auswerteeinrichtung (15), wobei die Auswerteeinrichtung derart wirksam mit der ersten Kamera verbunden ist, dass sie einen das von der ersten Kamera erfasste erste Bild beschreibenden ersten Bilddatensatz erhält. Erfindungsgemäß wird vorgeschlagen, dass die Auswerteeinrichtung derart eingerichtet ist, dass sie aus einem Datenmodel (16) des Prüfkörpers einen ersten Referenzbilddatensatz simuliert, der eine Beleuchtung des Prüfkörpers aus der ersten Beleuchtungsrichtung und eine Beleuchtung des Prüfkörpers aus der zweiten Beleuchtungsrichtung und eine Bilderfassung aus der ersten Beobachtungsrichtung berücksichtigt, und ein erstes Fehlersignal aus einem Vergleich zwischen dem ersten Bilddatensatz und dem ersten Referenzbilddatensatz erzeugt.