Verfahren und System zum Bestimmen eines Masses für eine Position einer Messfläche auf einer Oberfläche eines Endlosmaterials in einer Längsrichtung des Endlosmaterials

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren sowie ein System zum Bestimmen eines Ma-ßes für eine Position einer Messfläche auf einer Oberfläche eines Endlosmaterials in einer Längsrichtung des Endlosmaterials. Es hat sich herausgestellt, dass bei Endlosmaterialien die Mikrostruktur der Oberfläche, zumindest wenn sie über eine Zeile senkrecht zu der Längsrichtung des Endlosmaterials betrachtet wird, eine eineindeutige oder beinahe eineindeutige Signatur nach Art eines Fingerabdrucks (englisch Fingerprint) bildet. Diese Signatur gilt es während der Akquisitionsphase zu erfassen und zusammen mit einer Information über die Position der Signatur auf der Oberfläche (Ordnungskriterium) in der Datenbank abzuspeichern. Dann kann später die gleiche Position anhand der erneut erfassten Signatur und einem Abgleich mit den Signaturen in der Datenbank identifiziert werden. Eine zusätzliche Markierung der Oberfläche ist nicht notwendig.