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Patent
Title
Verfahren und Vorrichtung zur Merkmalsselektion
Abstract
Verfahren (100) zur Merkmalselektion, mit folgenden Schritten: Vorauswählen (110a) eines ersten Merkmals (M1); Anwenden (112a) des vorausgewählten ersten Merkmals (M1) auf einen Datensatz unter Verwendung eines Algorithmus; Vorauswählen (110b) eines zweiten Merkmals (M2); Anwenden (112b) des vorausgewählten zweiten Merkmals (M2) auf den Datensatz unter Verwendung des Algorithmus; Ermitteln (114) des Einflusses des ersten Merkmals (M1) und des zweiten Merkmals (M2) auf eine mehrdimensionale Leistungsmetrik des Algorithmus; Auswählen (116) des ersten vorausgewählten Merkmals (M1), wenn das erste Merkmal (M1) den vergleichsweise größeren Einfluss aufweist.
Patent Number
DE102023200301 A1
Publication Date
July 18, 2024
Language
German