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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Auf gestörter Totalreflexion beruhende Sensoranordnung und Verfahren zum bestimmen einer optischen Eigenschaft einer Testsubstanz

Other Title
Sensor device based on impaired total reflection and method for determining an optical property of a test substance
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Sensoranordnung (100) mit einem auf einer gestörten Totalreflexion beruhenden Photometer (26) zum Bestimmen einer optischen Eigenschaft einer Testsubstanz (2), wobei das Photometer (26) umfasst eine erste Strahlungsquelle (7), wobei die erste Strahlungsquelle (7) derart ausgestaltet ist, dass die erste Strahlungsquelle (7) in einem Betrieb der Sensoranordnung (100) elektromagnetische Messstrahlung erzeugt und abstrahlt, ein Reflexionselement (28), wobei das Reflexionselement (28) eine mit der Testsubstanz (2) in Kontakt bringbare Reflexionsfläche (23) aufweist, wobei das Reflexionselement (28) derart in einem Strahlengang der von der ersten Strahlungsquelle (7) abgestrahlten Messstrahlung angeordnet und derart ausgestaltet ist, dass die Messstrahlung in dem Betrieb der Sensoranordnung (100) an der Reflexionsfläche (23) eine gestörte Totalreflexion erfährt, einen ersten Strahlungsdetektor (9), wobei der erste Strahlungsdetektor (9) derart in dem Strahlengang der Messstrahlung angeordnet und derart ausgestaltet ist, dass der erste Strahlungsdetektor (9) in dem Betrieb der Sensoranordnung (100) die an der Reflexionsfläche (23) reflektierte Messstrahlung erfasst und ein die Leistung der erfassten Messstrahlung repräsentierendes Messsignal ausgibt, und eine Auswertungseinrichtung (25), wobei die Auswertungseinrichtung (25) derart mit dem ersten Strahlungsdetektor (9) verbunden ist, dass die Auswertungseinrichtung (25) in dem Betrieb der Sensoranordnung (100) das Messsignal empfängt, und wobei die Auswertungseinrichtung (25) derart eingerichtet ist, dass die Auswertungseinrichtung (25) in dem Betrieb der Sensoranordnung (100) aus dem Messsignal die optische Eigenschaft der Testsubstanz bestimmt und ein Maß für die optische Eigenschaft ausgibt, wobei die Sensoranordnung (100) einen Zustandssensor (27) aufweist, wobei der Zustandssensor (27) ein Detektorelement (8, 9, 9a, 16, 19) umfasst, wobei das Detektorelement (8, 9, 9a, 16, 19) derart angeordnet und ausgestaltet ist, dass das Detektorelement (8, 9, 9a, 16, 19) in dem Betrieb der Sensoranordnung (100) ein Maß für die Leistung einer zumindest an der Reflexionsfläche (23) gestreuten oder durch die Reflexionsfläche (23) in die Testsubstanz transmittierten und in der Testsubstanz gestreuten elektromagnetischen Streustrahlung erfasst und ein das Maß für die Leistung der Streustrahlung repräsentierendes Zustandssignal ausgibt, wobei die Auswertungseinrichtung (25) derart mit dem Detektorelement (8, 9, 9a, 16, 19) verbunden ist, dass die Auswertungseinrichtung (25) in dem Betrieb der Sensoranordnung (100) das Zustandssignal empfängt, und wobei die Auswertungseinrichtung (25) derart eingerichtet ist, dass die Auswertungseinrichtung (25) in dem Betrieb der Sensoranordnung (100) aus dem Zustandssignal einen Status zumindest der Reflexionsfläche (23) oder der Testsubstanz (2) bestimmt.
Inventor(s)
Lambrecht, Armin  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Brunner, Raimund  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Bolwien, Carsten  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Sulz, Gerd  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Link to Espacenet
https://worldwide-i.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=EPODOC&II=0&ND=3&adjacent=true&locale=en_EP&FT=D&date=20231018&CC=EP&NR=4261529A1&KC=A1
Patent Number
EP4261529 A1
Publication Date
October 18, 2023
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
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