Simulation von Oberflächenveränderungen und -defekten zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit (POD)

Bei optischen Prüfsystemen entscheidet das Erreichen der vom Endanwender vorgegebenen Detektionsrate und die Auffindwahrscheinlichkeit darüber, ob ein solches System in der Praxis einsetzbar ist. Eine Möglichkeit, diese Parameter quantitativ zu bestimmen, bieten â versus a-Analysen zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit (englisch:Probability of Detection, POD). Die POD-Analyse erlaubt, die sicher detektierbaren minimalen Fehlergrößen quantitativ zu berechnen. Eine Möglichkeit, die POD-Analyse für optische Systeme zu evaluieren, ist die Simulation von Oberflächendefekten mittels Raytracing. Die bereits am Fraunhofer ITWM entwickelte Simulation von Rissen auf flachen Bauteilen wurde um realistischere Bauteile (Zylinder) erweitert. Das einfache Lochkameramodell wurde durch ein realistisches Kameramodell mit Linsensystem erweitert. Die so erzeugten Bilddaten ermöglichen eine POD-Analyse auf Basis einer großen Anzahl von Defekten wenn noch eine Abdeckungsanalyse hinzugenommen wird.