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Konferenzschrift
Verformungsmessung an elektronischen Bauteilen und Baugruppen mit Grauwertkorrelation und Holografie
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2014
Conference Paper
Title
Verformungsmessung an elektronischen Bauteilen und Baugruppen mit Grauwertkorrelation und Holografie
Author(s)
Steiert, Matthias
Univ. Freiburg
Zeiser, Roderich
Univ. Freiburg
Berndt, Michael
Univ. Freiburg
Wilde, Jürgen
Univ. Freiburg
Beckmann, Tobias
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
Fratz, Markus
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
Mainwork
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2014
Conference
Tagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) 2014
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
