2006
Titel

Pattern recognition : 28th DAGM Symposium. Proceedings
Titel Supplements
Berlin, Germany, September 12-14, 2006
Beteiligt
Franke, K.
Müller, K.R.
Nickolay, B.
Schäfer, R.
Organisation
Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung -DAGM-
ISBN
3-540-44412-2
978-3-540-44412-1
Verlag
Verlagsort
Berlin
Konferenz
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Language
Englisch
FIRST