Method and assembly for large-surface testing of optical properties of a layer

Bei einem Verfahren und einer Anordnung zur Prüfung optischer Eigenschaften einer Schicht (4) wird die Schicht (4) vollflächig mit optischer Strahlung (3) beleuchtet und an der Schicht (4) reflektierte Strahlung (5) mit einem optischen Detektor (1) erfasst. Die Beleuchtung der Schicht (4) erfolgt dabei in zeitlicher Abfolge mit optischer Strahlung (3) unterschiedlicher Wellenlänge, wobei die Erfassung der reflektierten Strahlung (5) synchron dazu erfolgt. Bei dem Verfahren und der Anordnung wird für die Beleuchtung eine Beleuchtungseinrichtung (2) eingesetzt, die für die unterschiedlichen Wellenlängen unterschiedliche Gruppen von Lichtquellen aufweist, zwischen denen in schneller Abfolge umgeschaltet werden kann. Das Verfahren und die Anordnung ermöglichen eine großflächige und schnelle Reflexionsmessung an der Oberfläche eines Prüfkörpers, beispielsweise einer Solarzelle oder eines Solarmoduls, bei der vorzugsweise sowohl ortsaufgelöste als auch spektrale Information erhalten wird.