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Title
Verfahren und Anordnung zur Messung von Eigenschaften einer Materialbahn
Date Issued
2018
Author(s)
Patent No
102017202214
Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Anordnung zur Messung von Eigenschaften einer Materialbahn, die sich auf einem Förderband oder als Bandmaterial entlang einer Förderstrecke in einer Förderrichtung bewegt. Bei dem Verfahren wird mit einem seitlich der Materialbahn angeordneten HF-Sender ein Sendestrahl mit HF-Signalen auf die Vorderseite der Materialbahn gerichtet. An der Rückseite der Materialbahn sind mehrere über die Breite der Materialbahn verteilte diskrete HF-Reflektoren oder ein sich über die Breite der Materialbahn erstreckender flächiger HF-Reflektor angeordnet. Aus Richtung der Materialbahn reflektierte HF-Signale werden mit einem HF-Empfänger empfangen und ausgewertet, um daraus die lokalen Eigenschaften der Materialbahn zu bestimmen. Das vorgeschlagene Verfahren und die zugehörige Anordnung ermöglichen eine hohe örtliche Auflösung und lassen sich kostengünstig realisieren.
Language
de
Patenprio
DE 102017202214 A1: 20170213