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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Markierungseinrichtung und Verfahren zur Markierung

Abstract
Die Erfindung betrifft eine Markierungseinrichtung (1) mit zumindest einem Reflektor (2) und zumindest einer Haltevorrichtung (3), wobei die Haltevorrichtung (3) zumindest eine Basis (31) und zumindest einen Adapter (32) enthält, wobei die Basis (31) eine zumindest teiweise plane Unterseite (312) aufweist und dazu eingerichtet ist, auf den zu vermessenden Punkt (4) aufgelegt zu werden, der Adapter (32) dazu eingerichtet ist, auf der Basis (31) aufgelegt zu werden und der Reflektor (2) dazu eingerichtet ist, auf den Adapter (32) aufgelegt zu werden. Weiterhin betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Markierung eines zu vermessenden Punktes.
Inventor(s)
Meidow, Jochen  orcid-logo
Link to:
Espacenet
Patent Number
102017201387
Publication Date
2018
Language
German
Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB  
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