Wellenlängenmessvorrichtung und Verfahren zur Messung der Wellenlänge

Es wird eine Wellenlängenmessvorrichtung für elektromagnetische Fundamentalstrahlung mit einer Fundamentalwellenlänge vorgeschlagen mit einem nichtlinearen Verdopplerkristall, der derart ausgestaltet ist, dass er die Fundamentalstrahlung in elektromagnetische Strahlung mit der halben Fundamentalwellenlänge wandelt, einer Temperiereinrichtung, die derart ausgestaltet und angeordnet ist, dass sie eine Temperatur des Verdopplerkristalls einstellt, einem Temperatursensor, der derart ausgestaltet ist, dass er in dem Betrieb der Vorrichtung die Temperatur des Verdopplerkristalls erfasst, und einem Detektor zum Erfassen der Intensität der Strahlung mit der halben Fundamentalwellenlänge, wobei der Verdopplerkristall und der Detektor derart angeordnet sind, dass in dem Betrieb der Wellenlängenmessvorrichtung der Detektor die von dem Verdopplerkristall erzeugte Strahlung mit der halben Fundamentalwellenlänge erfasst, und mit einer Regel- und Auswerteeinrichtung, die wirksam mit der Temperiereinrichtung, dem Temperatursensor und dem Detektor verbunden ist, wobei die Regel- und Auswerteeinrichtung derart ausgestaltet ist, dass sie in dem Betrieb der Wellenlängenmessvorrichtung die Temperiereinrichtung in Abhängigkeit von der von dem Temperatursensor erfassten Temperatur regelt, sodass der Verdopplerkristall eine vorgegebene Temperatur aufweist, und wobei die Regel- und Auswerteeinrichtung derart ausgestaltet ist, dass sie in dem Betrieb der Wellenlängenmessvorrichtung aus der erfassten Temperatur des Verdopplerkristalls diejenige Wellenlänge bestimmt, die bei dieser erfassten Temperatur mit einer maximalen Effizienz gewandelt wird.