Messverfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung eines optischen Sensors

Die Erfindung betrifft ein Messverfahren zur Charakterisierung eines optischen Sensors, folgende Verfahrensschritte umfassend: - Beaufschlagen des optischen Sensors mittels Messstrahlung, wobei die Messstrahlung zumindest einen Modulationsanteil und einen Biasanteil aufweist und der Modulationsanteil mit einer Messmodulation moduliert wird; - Auswerten eines Messsignals des optischen Sensors mit Demodulation hinsichtlich der mit der Messmodulation modulierten Anteile des Messsignals; Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass zum Erzeugen des Modulationsanteils zumindest ein Laser verwendet wird, dessen Ausgangsstrahlung spektral aufgeweitet wird, dass die spektral aufgeweitete Ausgangsstrahlung spektral modifiziert wird und die spektral modifizierte Ausgangsstrahlung zu einem Modulationsstrahl vereinigt wird, um den optischen Sensor mit dem Modulationsstrahl zu beaufschlagen. Die Erfindung betrifft weiterhin eine Messvorrichtung zur Charakterisierung eines optischen Sensors sowie die Verwendung eines Lasers zur Charakterisierung eines optischen Sensors.