• English
  • Deutsch
  • Log In
    Password Login
    or
  • Research Outputs
  • Projects
  • Researchers
  • Institutes
  • Statistics
Repository logo
Fraunhofer-Gesellschaft
  1. Home
  2. Fraunhofer-Gesellschaft
  3. Patente
  4. Verfahren zur Ermittlung von Koordinaten einer ausgewaehlten Stelle auf der Oberflaeche eines Objektes sowie Verfahren zur Registrierung von Fehlerorten auf einer Qualitaetspruefung unterworfenen Pruefobjekten
 
  • Details
Options
Title

Verfahren zur Ermittlung von Koordinaten einer ausgewaehlten Stelle auf der Oberflaeche eines Objektes sowie Verfahren zur Registrierung von Fehlerorten auf einer Qualitaetspruefung unterworfenen Pruefobjekten

Date Issued
2002
Author(s)
Grob, R.
Patent No
1998-19822392
Abstract
Es wird ein Verfahren zur Ermittlung von Koordinaten einer ausgewaehlten Stelle (5) auf der Oberflaeche eines Objektes (2) in bekannter dreidimensionaler Gestalt vorgestellt. Ein solches Verfahren ist insbesondere innerhalb eines Verfahrens zur Registrierung von Koordinaten von Fehlerstellen (5) auf einer Qualitaetspruefung unterworfenen Pruefobjekten (2) anwendbar. Hierzu werden die ausgewaehlten Stellen (Fehlerstellen) (2) mittels einer Person beispielsweise mit einem Laserpointer angezeigt, waehrend gleichzeitig das Objekt (2) von einer 3-D-Geometrieerfassungsvorrichtung (3, 4) erfasst wird. Mit Hilfe der 3-D-Geometrieerfassungsvorrichtung (3, 4) koennen auf das Objekt (2) bezogenen Koordinaten der ausgewaehlten Stelle (5) automatisch ermittelt werden. Diese Automatisierung ermoeglicht eine hochgenaue Bestimmung dieser Koordinaten, die die Grundlage fuer eine statistische Auswertung der Fehlerstellen (5) bietet. Hierdurch koennen Fehlerquellen leichter erkannt und gegebenenfalls beseitigt werden.
DE 19822392 A UPAB: 20000124 NOVELTY - The method involves indicating the defect point (5) with an optical pointer, and simultaneously measuring at least a part of the object using a three-dimensional measuring device (3,4) automatically. The shape of the measured part of the object (2) and the position of the defect point in the object are compared and the position and coordinates of the defect point are determined. USE - The process is for use in quality control where the precise indication of a defect on the surface on an object is of use in statistical treatment of the positions of defects on manufactured objects. ADVANTAGE - A fully automated, more accurate quality control procedure is obtained.
Language
de
Institute
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT
Link
http://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&locale=en_EP&FT=D&CC=DE&NR=19822392A
Patenprio
DE 1998-19822392 A: 19980519
  • Cookie settings
  • Imprint
  • Privacy policy
  • Api
  • Send Feedback
© 2022