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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Entwicklung von PbTe-Sputterschichten und Si1-XGeX-PECVD-Schichten für thermoelektrische Generatoren und IR-Detektoren für mittlere Temperaturen
 
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2002
Report
Title

Entwicklung von PbTe-Sputterschichten und Si1-XGeX-PECVD-Schichten für thermoelektrische Generatoren und IR-Detektoren für mittlere Temperaturen

Title Supplement
Berichtszeitraum: 01.10.1999 - 30.09.2002. Abschlussbericht
Person Involved
Eberhard, D.
Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS  
Beyer, H.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Feißt, A.
Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS  
Künzel, C.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Plescher, G.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Corporate Author
Fraunhofer-Institut für Physikalische Meßtechnik -IPM-, Freiburg/Brsg.
Publishing Place
Freiburg
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
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