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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Hyperspektrales Imaging für die Schichtanalytik
 
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2015
Journal Article
Title

Hyperspektrales Imaging für die Schichtanalytik

Abstract
Die Möglichkeiten eine zuverlässige und flächige Oberflächen- und Schichtkontrolle zu etablieren, haben sich mit der modernen, bildgebenden Spektroskopie erheblich erweitert. Eine dieser Methoden ist das Hyperspektrale Imaging (HSI). Basierend auf einer spektralen Auswertung im sichtbaren (VIS, 380-780 nm) oder nahinfraroten Wellenlängenbereich (NIR, 780-2500 nm) werden eine Vielzahl an Möglichkeiten eröffnet, Oberflächen und Schichten zu kontrollieren. Ausgewertet werden dabei die auftretenden Absorptionen, die ganz unterschiedliche Informationen enthalten.
Author(s)
Wollmann, Philipp  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Gruber, Florian  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Grählert, Wulf  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Kaskel, Stefan  
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Journal
GIT. Labor-Fachzeitschrift  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Werkstoff- und Strahltechnik IWS  
Keyword(s)
  • Oberflächenkontrolle

  • Spektroskopie

  • Wellenlängenbereich

  • Bildgebung

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