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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Verformung von Mikrosystemen bei hohen Temperaturen
 
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2013
Journal Article
Title

Verformung von Mikrosystemen bei hohen Temperaturen

Abstract
Mit Hilfe von FE-Simulationen lassen sich zuverlässig Aussagen über Einflüsse und daraus resultierende Belastungen auf ein System treffen. Die Verifikation der Simulationen erfolgt durch optische Messsysteme. Hierzu wurden ein ESPI- und ein DIC-System etabliert.
Author(s)
Berndt, Michael
Univ. Freiburg
Carl, Daniel  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Fratz, Markus  
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Steiert, Matthias
Univ. Freiburg
Zeiser, Roderich
Univ. Freiburg
Journal
DGaO-Proceedings. Online journal  
Conference
Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik (DGaO Jahrestagung) 2013  
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Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
Keyword(s)
  • 3D-Messtechnik

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