2003
Journal Article
Title

Einfluss von bleifreiem Lot auf den Test elektronischer Baugruppen. Tl.1

Author(s)
Diersing, T.
Feuerstein, R.
Gailing, E.
Göpel, H.
Holzmann, R.
Kiel, T.
Pape, K.
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT  
Roth, H.
Tschimpke, L.
Journal
Language
German