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Wire-Bonding bleibt auf Draht. Herausforderungen und Entwicklungen in der Halbleiter-Verbindungstechnik
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2000
Journal Article
Title
Wire-Bonding bleibt auf Draht. Herausforderungen und Entwicklungen in der Halbleiter-Verbindungstechnik
Author(s)
Lang, K.-D.
Meier, P.
Schilde, B.
Schneider-Ramelow, M.
Journal
F und M. Feinwerktechnik, Mikrotechnik, Mikroelektronik
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM