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Konferenzschrift
Digital twin as solution for time latency in connected hardware-in-the-loop test benches
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2020
Conference Paper
Title
Digital twin as solution for time latency in connected hardware-in-the-loop test benches
Author(s)
Bartolozzi, Riccardo
Fraunhofer-Institut für Betriebsfestigkeit und Systemzuverlässigkeit LBF
Stelter, Eva-Maria
Fraunhofer-Institut für Betriebsfestigkeit und Systemzuverlässigkeit LBF
Nickel, D.
Schyr, Christian
Sültrop, Christian
Möller, Riccardo
Fraunhofer-Institut für Betriebsfestigkeit und Systemzuverlässigkeit LBF
Mainwork
VAL 2020, Fourth International Conference on Material and Component Performance under Variable Amplitude Loading. Proceedings
Conference
International Conference on Material and Component Performance under Variable Amplitude Loading (VAL) 2020
Language
English
Fraunhofer-Institut für Betriebsfestigkeit und Systemzuverlässigkeit LBF
Keyword(s)
digital twin
hardware-in-the-loop
