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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Planungsbasierte Oberflächeninspektion in der Deflektometrie mittels Greedy-Optimierung
 
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2013
Journal Article
Title

Planungsbasierte Oberflächeninspektion in der Deflektometrie mittels Greedy-Optimierung

Other Title
A greedy planning algorithm for deflectometric surface inspection
Abstract
Bei der deflektometrischen Inspektion sind für große oder kompliziert geformte spiegelnde Oberflächen mehrere Messungen notwendig, um diese vollständig und mit gleichmäßiger Genauigkeit zu erfassen. Die manuelle Wahl der Sensorkonfigurationen ist meist zeitaufwendig und für komplex geformte Prüfobjekte keine triviale Aufgabe. In dieser Arbeit wird ein probabilistisches Planungsverfahren vorgestellt, dass bei bekannter Referenzoberfläche eine Sequenz von Parametern für den deflektometrischen Sensorkopf plant mit dem Ziel ein Maß der Unsicherheit auf der geschätzten Oberfläche zu minimieren. Verschiedene kovarianzbasierte Gütemaße werden empirisch in einer Simulation untersucht und deren Eignung für die deflektometrische Inspektion diskutiert

; 

Several partial measurements need to be captured for a complete deflectometric inspection with uniform precision of large and complexly shaped surfaces. The manual choice of the sensor configurations is a time consuming and non-trivial task. In this article we suggest a probabilistic planning procedure which, with a given reference surface, plans a sequence of sensor configurations. Therefore it can minimize the uncertainty on the surface estimated. In a simulation we empirically evaluate various covariance-based measures and discuss their suitability for the deflectometric inspection task.
Author(s)
Roschani, M.
Beyerer, Jürgen  
Journal
Technisches Messen : TM  
DOI
10.1524/teme.2013.0021
Language
German
Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung IOSB  
Keyword(s)
  • visuelle Inspektion

  • Bayes'sche Inferenz

  • Gaussprozeß

  • Planung

  • Deflektometrie

  • visual inspection

  • Bayesian inference

  • Gaussian processes

  • planning

  • deflectometry

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