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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Methoden der berührungslosen Prüfung in der Produktion von Leiterplattenbaugruppen
 
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1991
Journal Article
Title

Methoden der berührungslosen Prüfung in der Produktion von Leiterplattenbaugruppen

Other Title
Methods for contactless testing in the production of circuit board subassembles
Abstract
Frühzeitiges Erkennen von Fertigungsfehlern wird seit Einführung der SMD-Technik in der Produktion elektronischer Leiterplattenbaugruppen immer wichtiger. Gründe hierfür sind u.a. die mit dem Fertistellgrad steigenden Kosten für Fehlersuche und Reparatur sowie das hohe Risiko von Reparaturfolgefehlern, die insbesondere bei vielpoligen Bauelementen zu irreparablen Beschädigungen der Baugruppe führen können. Es ist deshalb anzustreben, Fertigungsfehler möglichst frühzeitig zu beseitigen und durch direkte Prozeßüberwachung weitgehend zu verhindern. In diesem Beitrag werden berührungslos arbeitende Prüfverfahren mit ihren Möglichkeiten und Grenzen im Hinblick auf eine automatisierte Prüfung von Leiterplattenbaugruppen beschrieben.
Author(s)
Linse, V.
Schmidberger, E.
Journal
Qualität und Zuverlässigkeit : QZ  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
Keyword(s)
  • Baugruppe

  • berührungslose Abtastung

  • berührungslose Prüfung

  • Fertigung

  • Fertigungsfehler

  • Leiterplatte

  • Leiterplattenbaugruppe

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  • Qualitätsprüfung

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