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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Evaluation of semiconductor manufacturing equipment with respect to particle generation
 
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1988
Conference Paper
Title

Evaluation of semiconductor manufacturing equipment with respect to particle generation

Abstract
Der Artikel handelt von den verschiedenen Methoden zur Messung und Bestimmung von Partikelverunreinigungen in Luft, Grasen, Flüssigkeiten und auf Oberflächen. Er beschreibt ein Prüfzentrum, das am IPA für solche Untersuchungen eingerichtet wurde, dessen Ziele, Ausrüstungen und Tätigkeiten. Es werden Ergebnisse und Erfahrungen beschrieben, die in den bisherigen Untersuchungen erzielt wurden. (IPA)
Author(s)
Herz, R.
Kahlden, T. von
Schmutz, W.
Schraft, R.D.
Mainwork
ICCS '88. International Symposium on Contamination Control. Proceedings  
Conference
International Symposium of Contamination Control 1988  
Language
English
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA  
Keyword(s)
  • Halbleiterfertigungsgerät

  • Partikelkontamination

  • Partikelmessung

  • Prüfzentrum

  • Reinraumtechnik

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