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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Hohe Lebensdauer durch hohe Temperatur
 
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2014
Presentation
Title

Hohe Lebensdauer durch hohe Temperatur

Title Supplement
Präsentation auf dem Leistungselektronik Kolloquium (Cluster Leistungselektronik), 17.03.2014
Other Title
High lifetime by increased temperatures
Abstract
Aktive Lastwechseltests (Power Cycling) wurden mit Silizium-Carbid Dioden bei verschiedenen Kühlmitteltemperaturen Tj,min von 40 120 °C durchgeführt. Unter diesen Bedingungen wurde die Silber-Sintertechnologie mit Hochblei- und Gold-Germanium-Loten verglichen. Das Ergebnis zeigte, dass bei der höchsten Kühlmitteltemperatur von 120°C die größte Lastwechselzahl erreicht wurde. In dem Vortrag werden die Ergebnisse der Testreihen vorgestellt und eine mögliche Erklärung für dieses Verhalten diskutiert.
Author(s)
Hutzler, Aaron
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Schletz, Andreas  
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Conference
Leistungselektronik-Kolloquium 2014  
File(s)
Download (3.21 MB)
Rights
Use according to copyright law
DOI
10.24406/publica-fhg-387287
Language
German
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Keyword(s)
  • Aktiver Lastwechsel

  • Kühlmitteltemperatur

  • Hochtemperatur

  • Lebensdauer

  • Zuverlässigkeit

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