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2012
Doctoral Thesis
Title
Bewertung der Lebensdauer von Lotverbindungen unter Betrachtung des Fehlermechanismus Elektromigration
Abstract
In dieser Arbeit werden die überlagerten Fehlermechanismen innerhalb von Lotverbindungen zur Bewertung der Zuverlässigkeit bei Elektromigration untersucht und modelliert.
Thesis Note
Zugl.: Berlin, TU, Diss., 2012
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