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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. NanoSPV - SPM Technique for the Quantitative Measurement of Minority Charge Carrier Diffusion Lengths with High Spatial Resolution
 
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2014
Presentation
Title

NanoSPV - SPM Technique for the Quantitative Measurement of Minority Charge Carrier Diffusion Lengths with High Spatial Resolution

Title Supplement
Presentation held at European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition, EU PVSEC 2014, September, 22. - 26., 2014, Amsterdam, The Netherlands
Author(s)
Stumpf, Florian
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Rommel, Mathias  orcid-logo
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Bauer, Anton
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Frey, Lothar
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Hitzel, Frank
DME Nanotechnologie GmbH
Stadelmann, Anja
DME Nanotechnologie GmbH
Bartel, Til
Silicor Materials
Funder
Bundesministerium für Bildung und Forschung BMBF (Deutschland)  
Conference
European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC) 2014  
File(s)
Download (3.78 MB)
Rights
Use according to copyright law
DOI
10.24406/publica-fhg-386317
Language
English
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
Keyword(s)
  • diffusion length

  • KPFM

  • surface photovoltage

  • lifetime

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