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Abschlussarbeit
Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
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1989
Diploma Thesis
Title
Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
Thesis Note
Zugl.: Dipl.-Arb.
Author(s)
Hübner, U.
Publisher
GMD
Publishing Place
Sankt Augustin
Language
German
GMD