• English
  • Deutsch
  • Log In
    Password Login
    Research Outputs
    Fundings & Projects
    Researchers
    Institutes
    Statistics
Repository logo
Fraunhofer-Gesellschaft
  1. Home
  2. Fraunhofer-Gesellschaft
  3. Konferenzschrift
  4. HF-Charakterisierung der Embedding-PCB-Technologie-Toleranzen für Radar-Anwendungen
 
  • Details
  • Full
Options
June 14, 2022
Conference Paper
Title

HF-Charakterisierung der Embedding-PCB-Technologie-Toleranzen für Radar-Anwendungen

Abstract
Zukünftige Radar-Sensoren müssen folgende Anforderungen erfüllen: - Hoher Integrationsgrad zur Verbesserung der Integrationsmöglichkeit im Automobil - Hohe Auflösung (Winkeltrennfähigkeit, Tiefenauflösung) bei gleichzeitigem max. Detektionsbereich - Detektionssicherheit bei der Erkennung von Zielen für eine sichere Steuerung des Automobils Aufgrund der komplexen Anforderungen an die Funktionalität des Radarsensors bietet sich für die Fertigung des Schaltungsträgers die PCB-Embedding-Technologie an. Der hohe Integrationsgrad der für ein Radarsystem notwendigen elektronischen Bauelemente erlaubt deren Integration in eine Leiterplatte. Der daraus resultierende kompakte Aufbau von Frontend sowie Signalauswertung erleichtert die Integration in die Fahrzeughülle und erhöht die Robustheit des Aufbaus. Die Diskussion des Einflusses der Aufbau und Verbindungstechnologie für die Funktionalität von Radarsensoren ist das Ziel dieser Veröffentlichung. Der Fokus liegt hierbei vor allem auf der Auslegung des Stack-Up, dem Einfluss von Basismaterial und Oberflächenfinish sowie der Prozessierung mit dem Fokus auf Ätztoleranzen. Dafür wurden unterschiedliche HF-Leitungskonfigurationen, Antennen sowie Durchkontaktierungen hergestellt und im Frequenzband zwischen 76,5 und 81 GHz charakterisiert. Im Ergebnis dieses Prozesses wurde eine Fertigungstechnologie entwickelt, welche durch ihre hohe Prozesssicherheit ein Maximum an Funktionalität, Qualität und Wirtschaftlichkeit für eine neue Generation von Radarsensoren gewährleistet.
Author(s)
Tschoban, Christian  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Schwanitz, Oliver
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Schmied, Matthias
Ndip, Ivan  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Pötter, Harald  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Fiehler, Ralph
Schneider-Ramelow, Martin  
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
Mainwork
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2022  
Conference
Tagung "Elektronische Baugruppen und Leiterplatten" 2022  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
  • Cookie settings
  • Imprint
  • Privacy policy
  • Api
  • Contact
© 2024