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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. 14xx-nm high brightness tapered diode lasers grown by solid-source MBE
 
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2006
Journal Article
Title

14xx-nm high brightness tapered diode lasers grown by solid-source MBE

Abstract
We demonstrate a 1470-nm InGaAsP high-power tapered diode laser grown by all solid-source molecular beam epitaxy. Devices compare well to metal-organic vapor phase epitaxy grown lasers and reach 1.6 W of total power and 1 W of nearly diffraction-limited output power. First reliability tests indicate lifetimes exceeding 10 000 h.
Author(s)
Kallenbach, S.
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Aidam, Rolf  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Lösch, R.
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Kaufel, G.
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Kelemen, M.T.
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Mikulla, Michael  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Weimann, G.
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Journal
IEEE Photonics Technology Letters  
DOI
10.1109/LPT.2006.870124
Language
English
Fraunhofer-Institut für Angewandte Festkörperphysik IAF  
Keyword(s)
  • 14xx nm

  • high brightness

  • InGaAsP

  • semiconductor lasers

  • solid-cource molecular beam epitaxy (SSMBE)

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