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Abschlussarbeit
Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
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1990
Doctoral Thesis
Title
Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
Thesis Note
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1990
Author(s)
Fritz, J.
Publisher
Hüthig
Publishing Place
Heidelberg
Language
German
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS
Keyword(s)
CMOS-Schaltung
Elektrooptik
Laserscan-Mikroskop
OPIC-Effekt
Physikalischer Effekt
Pockels-Effekt