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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
 
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1990
Doctoral Thesis
Title

Elektro-optischer Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen

Thesis Note
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1990
Author(s)
Fritz, J.
Publisher
Hüthig  
Publishing Place
Heidelberg
Language
German
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Keyword(s)
  • CMOS-Schaltung

  • Elektrooptik

  • Laserscan-Mikroskop

  • OPIC-Effekt

  • Physikalischer Effekt

  • Pockels-Effekt

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