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Fraunhofer-Gesellschaft
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2007
Conference Paper
Title

Sind taktile und optische Rauheitsmessungen vergleichbar?

Abstract
Zum Beantworten der Frage: Sind taktile und optische Rauheitsmessungen vergleichbar? wurden an drei Lehrstühlen für Fertigungsmesstechnik die Profile von verschiedenen Werkstücken: Raunormale, Strichmaßstab und Keramikdichtung mit unterschiedlichen Messprinzipien erfasst. Bei der Gegenüberstellung der Messergebnisse treten physikalische erklärbare Unterschiede auf. Durch die Unterscheidung der Oberflächen in eine mechanische Oberfläche und eine elektromagnetische Oberfläche sind die Ergebnisse der Erfassung der Oberfläche nur dann vergleichbar, wenn auch die Ergebnisse der mechanischen und der elektromagnetischen Erfassung vergleichbar sind. Die Vergleichbarkeit der Rauheitsmessung zwischen taktilen und optischen Messprinzipien hängt von der Struktur der Oberfläche ab. Falls diese Vergleichbarkeit notwendig ist, muss sie für jede Oberflächenstruktur nachgewiesen werden. To answer the question: Are stylus and optical roughness measurements comparable? the profiles of three different work pieces have been measured by University chairs for production metrology: roughness standards, an incremental scale and a ceramic seal. When comparing the results, physically explainable differences arise. With the differentiation of surfaces into mechanical and electro-magnetic surfaces a comparison of the measurement results of the extraction of the surfaces is only possible, if also the results of both the mechanical and the electro-magnetic extraction are comparable. That means, that the comparability of stylus and optical roughness measurements depends on the surface structure. In case the comparability is inevitable, yet it has to be shown for every structure. Entnommen aus <a_href="http://www.fiz-technik.de/db/b_tema.htm" target="_blank">TEMA</a>
Author(s)
Dietzsch, Michael
König, Niels  
Schmitt, R.  
Seewig, Jörg
Mainwork
Optische Messung technischer Oberflächen in der Praxis  
Conference
Fachtagung Optische Messung Technischer Oberflächen 2007  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT  
Keyword(s)
  • Konfokale Mikroskopie

  • Meßverfahren

  • Methodenvergleich

  • Oberflächenstruktur

  • optischer Sensor

  • optisches Messen

  • Rasterkraftmikroskopie

  • Rauigkeitsmessung

  • Tastsensor

  • Vergleichsmessung

  • Weißlichtinterferometrie

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