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Konferenzschrift
Prozessoptimierung und Produktprüfung von QFN-Bauteilen mit dem iForce-Stressmesschip
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2014
Conference Paper
Titel
Prozessoptimierung und Produktprüfung von QFN-Bauteilen mit dem iForce-Stressmesschip
Author(s)
Schreier-Alt, T.
Ansorge, F.
Chmiel, G.
Lang, K.-D.
Hauptwerk
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2014
Konferenz
Tagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) 2014
Language
German
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Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM