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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Testsysteme und Testmethodik zur Untersuchung der SEU/SEL-Empfindlichkeit und des Total-Dose-Verhaltens eines strahlenharten 32-Bit-Signalprozessors für Raumfahrtanwendungen
 
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1997
Book Article
Title

Testsysteme und Testmethodik zur Untersuchung der SEU/SEL-Empfindlichkeit und des Total-Dose-Verhaltens eines strahlenharten 32-Bit-Signalprozessors für Raumfahrtanwendungen

Author(s)
Müller, T.
Despang, H.-G.
Kleinmann, L.
Nauber, P.
Mainwork
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme. Jahresbericht 1996  
Language
German
IMS2  
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