1997
Book Article
Titel

Testsysteme und Testmethodik zur Untersuchung der SEU/SEL-Empfindlichkeit und des Total-Dose-Verhaltens eines strahlenharten 32-Bit-Signalprozessors für Raumfahrtanwendungen
Author(s)
Müller, T.
Despang, H.-G.
Kleinmann, L.
Nauber, P.
Hauptwerk
Thumbnail Image
Language
German