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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Zuverlässigkeit von Substraten der Leistungselektronik gegenüber Temperaturzyklen im Vergleich
 
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2010
Conference Paper
Title

Zuverlässigkeit von Substraten der Leistungselektronik gegenüber Temperaturzyklen im Vergleich

Author(s)
Roth, A.
Ponomarenko, M.
Knörr, M.
Schletz, A.  
Mainwork
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2010  
Conference
Fachtagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) 2010  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
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