English
Deutsch
Log In
Log in with Fraunhofer Smartcard
Password Login
Research Outputs
Fundings & Projects
Researchers
Institutes
Statistics
Fraunhofer-Gesellschaft
Home
Fraunhofer-Gesellschaft
Konferenzschrift
Zuverlässigkeit von Substraten der Leistungselektronik gegenüber Temperaturzyklen im Vergleich
Details
Full
Export
Statistics
Options
Show all metadata (technical view)
2010
Conference Paper
Title
Zuverlässigkeit von Substraten der Leistungselektronik gegenüber Temperaturzyklen im Vergleich
Author(s)
Roth, A.
Ponomarenko, M.
Knörr, M.
Schletz, A.
Mainwork
Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2010
Conference
Fachtagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) 2010
Language
German
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB