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Konferenzschrift
Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe
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1983
Conference Paper
Titel
Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe
Author(s)
Siegele, D.
Schmitt, W.
Hauptwerk
Tagungsband 15. Sitzung des Arbeitskreises Bruchvorgänge im DVM
Konferenz
Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung, Arbeitskreis Bruchvorgänge (Sitzung) 1983
Language
German
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Fraunhofer-Institut fĂĽr Werkstoffmechanik IWM
Tags
Kompaktprobe
Oberflächenfehler(halbelliptisch)
Spannungszustand
Vergleich