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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe
 
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1983
Conference Paper
Titel

Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe

Author(s)
Siegele, D.
Schmitt, W.
Hauptwerk
Tagungsband 15. Sitzung des Arbeitskreises Bruchvorgänge im DVM
Konferenz
Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung, Arbeitskreis Bruchvorgänge (Sitzung) 1983
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Language
German
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Fraunhofer-Institut fĂĽr Werkstoffmechanik IWM
Tags
  • Kompaktprobe

  • Oberflächenfehler(halbelliptisch)

  • Spannungszustand

  • Vergleich

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