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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe
 
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1983
Conference Paper
Title

Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe

Author(s)
Siegele, D.
Schmitt, W.
Mainwork
Tagungsband 15. Sitzung des Arbeitskreises Bruchvorgänge im DVM  
Conference
Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung, Arbeitskreis Bruchvorgänge (Sitzung) 1983  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Werkstoffmechanik IWM  
Keyword(s)
  • Kompaktprobe

  • Oberflächenfehler(halbelliptisch)

  • Spannungszustand

  • Vergleich

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