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Konferenzschrift
Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe
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1983
Conference Paper
Title
Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe
Author(s)
Siegele, D.
Schmitt, W.
Mainwork
Tagungsband 15. Sitzung des Arbeitskreises Bruchvorgänge im DVM
Conference
Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung, Arbeitskreis Bruchvorgänge (Sitzung) 1983
Language
German
Fraunhofer-Institut für Werkstoffmechanik IWM
Keyword(s)
Kompaktprobe
Oberflächenfehler(halbelliptisch)
Spannungszustand
Vergleich