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Moderne optische Verfahren zur Charakterisierung von technischen Oberflaechen
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1985
Journal Article
Title
Moderne optische Verfahren zur Charakterisierung von technischen Oberflaechen
Author(s)
Höfler, H.
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
Juckenack, D.
Journal
Konstruktion
Language
German
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM
Keyword(s)
Oberflächenmeßtechnik(optisch)
Oberflächentopographie
