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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Via-in-Pad, Poren und Zuverlässigkeit bleifreier CSP-Lötverbindungen
 
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2007
Journal Article
Title

Via-in-Pad, Poren und Zuverlässigkeit bleifreier CSP-Lötverbindungen

Author(s)
Ahrens, T.
Poech, M.H.
Höfer, E.
Wege, S.
Lauer, T.
Haritz, H.
Journal
Schweißen und Schneiden  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie ISIT  
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