2006
Journal Article
Title

DFG-Projekt RealTest - Test und Zuverlässigkeit nanoelektronischer Systeme

Other Title
DFG-Project - Test and reliability of nano-electronic systems
Author(s)
Becker, B.
Hellebrand, S.
Polian, I.
Straube, B.
Wunderlich, H.-J.
Journal
DOI
Language
German