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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Nachweis verdeckter rissartiger Fehlstellen mittels induktiv angeregter Thermografie
 
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2011
Conference Paper
Title

Nachweis verdeckter rissartiger Fehlstellen mittels induktiv angeregter Thermografie

Abstract
Die induktiv angeregte Thermografie eignet sich sehr gut zur Oberflächenrissprüfung ferromagnetischer und austenitischer Stähle und besitzt das Potenzial, zur vollautomatischen Prüfung von Bauteilen in der industriellen Qualitätssicherung eingesetzt zu werden. Der vorliegende Beitrag befasst sich mit neueren Entwicklungen der Prüftechnik mit dem Ziel, auch verdeckte, unter der Oberfläche liegende, rissartige Fehlstellen nachweisen zu können. Es werden die physikalischen Mechanismen des Fehlernachweises und die Bedingungen behandelt, unter denen solche Fehlstellen nachweisbar sind.
Author(s)
Walle, Günter
Stumm, C.
Valeske, Bernd  
Netzelmann, Udo  
Mainwork
ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung. DGZfP-Jahrestagung 2011. CD-ROM  
Conference
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (Jahrestagung) 2011  
File(s)
Download (315.6 KB)
Rights
Use according to copyright law
DOI
10.24406/publica-fhg-374237
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFP  
Keyword(s)
  • Thermografie

  • Oberflächenrissprüfung

  • Qualitätssicherung

  • Prüftechnik

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