Verfahren zur Bestimmung des Vorhandenseins von anorganischen, organischen oder Oxidschichten auf metallischen Substraten oder der Messung von Oberflaechentemperaturen von Kunststoffsubstraten

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung des Vorhandenseins von anorganischen, organischen oder Oxidschichten auf metallischen Substraten oder der Messung von Oberflaechentemperaturen von Kunststoffsubstraten. Mit der erfindungsgemaessen Loesung sollen kostenguenstig und in kurzer Zeit die genannten Schichten und Temperaturen auf den Oberflaechen solcher Substrate detektiert werden. Hierzu wird mindestens ein als kapazitives oder induktives Element, als Elektrode wirkend, mit einem mit einer Gleichspannung gespeicherten Oszillator zu einem Schwingkreis verschaltet und in einem bekannten Abstand d zur Oberflaeche des Substrates angeordnet. Infolge einer zwischen der Substratoberflaeche und der Elektrode angeordneten Schicht oder einer Temperaturaenderung auf der Oberflaeche eines Kunststoffsubstrates tritt eine Verstimmung des Schwingkreises auf und die daraus resultierende Frequenzaenderung kann mit einem Frequenzzaehler gemessen und ausgewertet werden.

DE 19949977 A UPAB: 20010704 NOVELTY - Determining the presence of inorganic, organic or oxide layers on metallic substrates comprises arranging electrode at a distance to the surface, and measuring the frequency change as a consequence of temperature change. DETAILED DESCRIPTION - Determining the presence of inorganic, organic or oxide layers on metallic substrates or measuring surface temperatures of plastic substrates comprises arranging an electrode (2) acting as a capacitive or inductive element connected with an oscillator (3) injected with a voltage to an oscillating circuit at a distance to the surface; and measuring a frequency change as a consequence of a temperature change using a frequency counter arising on the surface of a plastic substrate (1) by de-tuning the oscillating circuit. An INDEPENDENT CLAIM is also included for an apparatus for determining the presence of inorganic, organic or oxide layers on metallic substrates or measuring surface temperatures of plastic substrates. Preferred Features: The electrical voltage is kept constant on the oscillator and is regulated depending on prescribed frequency and the required voltage difference utilized. USE - For determining the presence of inorganic, organic or oxide layers on metallic substrates or measuring surface temperatures of plastic substrates. ADVANTAGE - The process is quick and accurate.