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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Method and device for non-linear spectroscopy of a sample
 
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Patent
Title

Method and device for non-linear spectroscopy of a sample

Abstract
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur nichtlinearen optischen Spektroskopie an einer Probe, wobei eine erste Signal- und Idlerstrahlung mittels einer ersten parametrischen Fluoreszenz in einem nichtlinearen optischen Medium erzeugt werden, wobei eine zweite Signal- und Idlerstrahlung mittels einer zweiten parametrischen Fluoreszenz in einem nichtlinearen optischen Medium erzeugt werden, wobei die erste und zweite Idlerstrahlung kohärent zueinander sind, wobei die erste und zweite Signalstrahlung räumlich überlagert werden, wobei die erste Signalstrahlung eine optische Signalweglänge zurücklegt und die erste Idlerstrahlung eine optische Idlerweglänge, wobei eine Weglängendifferenz zwischen der optischen Signalweglänge und der optischen Idlerweglänge geändert wird und wobei ein Weglängeninterferenzmusters einer Intensität ausschließlich der räumlich überlagerten ersten und zweiten Signalstrahlung nach einem räumlichen Überlagern der ersten und zweiten Idlerstrahlung in dem nichtlinearen optischen Medium der zweiten parametrischen Fluoreszenz in Abhängigkeit von der Weglängendifferenz erfasst wird und wobei anschließend ein Frequenzspektrums der ersten Idlerstrahlung durch Transformieren des von der Weglängendifferenz abhängigen Weglängeninterferenzmusters in das Frequenzspektrum erzeugt wird.
Inventor(s)
Lindner, Chiara  
Wolf, Sebastian  
Kühnemann, Frank  
Kießling, Jens  
Link to Espacenet
https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&FT=D&CC=EP&NR=3792606A1
Patent Number
3792606
Publication Date
2021
Language
English
Fraunhofer-Institut für Physikalische Messtechnik IPM  
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