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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Verfahren zur Charakterisierung eines Strahlenbuendels

Other Title
Characterization of laser beam; involves using beam-shaping optical element to divide beam into sub-beams for detection using sensor with spatial resolution.
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Charakterisierung eines Strahlenbuendels, insbesondere eines Laserstrahlenbuendels, bei dem die Intensitaets- und Phasenverteilung des Strahlenbuendels bestimmt wird. Bei dem Verfahren wird das Strahlenbuendel durch ein nicht strahlenformendes optisches Element in Teilstrahlenbuendel zerteilt und deren jeweilige Intensitaet ortsaufgeloest detektiert. Gleichzeitig wird aus dem geometrischen Verlauf der Treilstrahlenbuendel die Phasenverteilung der Gesamtstrahlung bestimmt. Das Verfahren erlaubt auf einfache und kostenguenstige Weise die Charakterisierung von Strahlung und vorteilhafterweise von Laserstrahlung. Dabei kann insbesondere auch die Strahlung von Lasern mit einer Laserleistung im Kilowattbereich oder von divergent abstrahlenden Diodenlasern zuverlaessig charakterisiert werden.

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DE 19841083 A UPAB: 20000613 NOVELTY - The beam is divided by an optical element into sub-beams, whose intensities are detected using a sensor with spatial resolution. The phase distribution of the total radiation is determined from the single-beam direction distribution of the sub-beams. The aperture only lets through one sub-beam, and the beam cross-section is sequentially scanned. DETAILED DESCRIPTION - The optical element does not shape the beam and may be an aperture or pin diaphragm. The sensor may be a CCD camera or a pyro-camera detector. The detector may alternatively be a positive sensitive device (PSD), a four-quadrant detector or a line detector. USE - For determining the intensity and phase distributions of laser beams, including beams from laser diode arrays. ADVANTAGE - Simplified method, with increased spatial resolution.
Inventor(s)
Muentz, H.
Link to:
Espacenet
Patent Number
1998-19841083
Publication Date
2000
Language
German
Fraunhofer-Institut für Lasertechnik ILT  
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