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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Verfahren zur Modifizierung einer Oberfläche eines Substrats durch Ionenbeschuss

Other Title
Method for Modifying a Surface of a Substrate using Ion Bombardment
Abstract
Es wird ein Verfahren zur Modifizierung einer Oberfläche eines Substrats (6) durch Ionenbeschuss beschrieben, bei dem die Ionen (7) mittels einer magnetfeldunterstützten Glimmentladung in einem Prozessgas (10) erzeugt werden, wobei die magnetfeldunterstützte Glimmentladung mittels eines Magnetrons (8, 9) erzeugt wird, das eine Elektrode (1) und mindestens einen Magneten (3) zur Erzeugung des Magnetfelds (4) aufweist. Das Prozessgas (10) weist mindestens einen elektronegativen Bestandteil auf, so dass bei der magnetfeldunterstützten Glimmentladung negative Ionen (7) erzeugt werden, wobei die negativen Ionen (7), welche an der Oberfläche der Elektrode (1) erzeugt werden, durch eine an die Elektrode (1) angelegte elektrische Spannung in Richtung des Substrats (6) beschleunigt werden.; Die auf das Substrat (6) auftreffenden negativen Ionen bewirken (7) die Modifizierung der Oberfläche des Substrats (6).

; 

A process is described for modification of a surface of a substrate by ion bombardment, in which the ions are produced by means of a magnetic field-assisted glow discharge in a process gas. The magnetic field-assisted glow discharge is produced by means of a magnetron having an electrode and at least one magnet for production of the magnetic field. The process gas has at least one electronegative constituent, such that negative ions are produced in the magnetic field-assisted glow discharge, and the negative ions which are produced at the surface of the electrode are accelerated in the direction of the substrate by an electrical voltage applied to the electrode.
Inventor(s)
Schulz, Ulrike  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Schönberger, Waldemar
Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik FEP  
Munzert, Peter  
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Thielsch, Roland
Fahland, Matthias  
Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik FEP  
Kleinhempel, Ronny
Link to Espacenet
http://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&locale=en_EP&FT=D&CC=DE&NR=102011013822A
Patent Number
102011013822
Publication Date
2012
Language
German
Fraunhofer-Institut für Angewandte Optik und Feinmechanik IOF  
Fraunhofer-Institut für Organische Elektronik, Elektronenstrahl- und Plasmatechnik FEP  
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