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Patente
Verfahren zum Testen von mit einer Leiterbahnstruktur versehenen Substraten
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Title
Verfahren zum Testen von mit einer Leiterbahnstruktur versehenen Substraten
Date Issued
1999
Author(s)
Zakel, E.
Ansorge, F.
Kasulke, P.
Ostmann, A.
Aschenbrenner, R.
Dietrich, L.
Patent No
1995-19533170
Language
de
Institute
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM
Link
http://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&locale=en_EP&FT=D&CC=DE&NR=19600994A
Patenprio
DE 1995-19533170 A: 19950908