• English
  • Deutsch
  • Log In
    Password Login
    Research Outputs
    Fundings & Projects
    Researchers
    Institutes
    Statistics
Repository logo
Fraunhofer-Gesellschaft
  1. Home
  2. Fraunhofer-Gesellschaft
  3. Patente
  4. Qualitaetsueberwachung bei einer Fertigung mit breitem Produktspektrum
 
  • Details
Options
Patent
Title

Qualitaetsueberwachung bei einer Fertigung mit breitem Produktspektrum

Other Title
Method monitoring quality of parallel production processes takes successive means of individual production model quality indicators, to form multidimensional means, used to plot and compare state magnitudes.
Abstract
Die Erfindung befasst sich mit einem Verfahren zur Ueberwachung der Qualitaet einer Vielzahl von technischen Produkttypen (P, P', P''), die in einem quasi-parallelen Fertigungsprozess hergestellt werden. Es geht der Erfindung darum, nicht jeden zu kontrollierenden Parameter in einer eigenen Darstellung zu ueberwachen, sondern eine Vielzahl von aus dem Prozess gewonnenen Prozessdaten moeglichst uebersichtlich darzustellen. Hierzu schlaegt die Erfindung fuer die quasi-parallele Fertigung von verschiedenen Produkttypen vor, aus einer Stichprobe eines ersten Produkttyps in einer Fertigungsstation (S1) aus Messwerten eines technischen Produktparameters einen Mittelwert zu berechnen und diesen Mittelwert in einen mehrdimensionalen Mittelwertvektor als ein Skalar einzuspeichern. Der mehrdimensionale Mittelwert wird erst nach Ablauf einer festgelegten Zeitspanne (T1) in einen Zustandswert (T2) fuer die Fertigung der mehreren Produkttypen in der Fertigungsstation umgerechnet. Waehrend der festgelegten Zeitspanne (T1) koennen nacheinander mehrere Mittelwerte aus dem Fertigungsprozess Einfluss auf die einzelnen Skalare des mehrdimensionalen Mittelwertes nehmen. Insbesondere wird die Zustandsgroesse anhand einer T2-Hotelling-Statistik errechnet.

; 

WO 200042480 A UPAB: 20001102 NOVELTY - Following processing in the S1 workstation, a spot sample is taken of the product. It is one of a series, having a first model number. Instruments measure set technical parameters indicative of product quality, resulting in values (m1, m2, mN). An individual mean (mp) is calculated from these measured values. This is stored in a multidimensional mean value (m) for the first model number (j), converting individual means into a state value. The result is stored as a point (Ta, Tb, Tc) on the path of the state magnitude (T2(t)), and/or is displayed (20). The state value is calculated using a T2 Hotelling statistical function USE - In production quality monitoring. ADVANTAGE - The method surveys several product types, manufactured in quasi-parallel production. The result is an overview of the process, rather than monitoring each individual parameter.
Inventor(s)
Oechsner, R.  
Tschaftary, T.
Strzyzewski, P.
Pfitzner, L.
Schneider, C.
Hennig, P.
Link to Espacenet
http://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&locale=en_EP&FT=D&CC=DE&NR=19902795A
Patent Number
1999-19901410
1999-19901486
1999-19902795
Publication Date
2004
Language
German
Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie IISB  
  • Cookie settings
  • Imprint
  • Privacy policy
  • Api
  • Contact
© 2024