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Patente
Schnelles Auffinden der interessantesten Muster in einer Datenbank durch sequentielle Probennahme
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Patent
Title
Schnelles Auffinden der interessantesten Muster in einer Datenbank durch sequentielle Probennahme
Inventor(s)
Wrobel, Stefan
Scheffer, T.
Link to Espacenet
http://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&locale=en_EP&FT=D&CC=EP&NR=960677AW
Patent Number
2000-117900
Publication Date
2006
Language
German
Fraunhofer-Institut für Intelligente Analyse- und Informationssysteme IAIS
