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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Vorrichtung und Verfahren zur Messung exponentiell abklingender und ansteigender Prozesse mit zählenden Systemen mit begrenztem Dynamikbereich

Abstract
Eine Vorrichtung zur Messung eines exponentiell abklingenden Prozesses oder eines exponentiell ansteigenden Prozesses gemäß einer Ausführungsform wird bereitgestellt. Die Vorrichtung umfasst eine Messfenster-Bestimmungseinheit (110) zum Bestimmen eines aktuellen Messfensters, wobei das aktuelle Messfenster einen Zeitbereich definiert, der dadurch bestimmt ist, ab welchem ersten Zeitpunkt nach der Anregung einer Signalquelle eines Signals und bis zu welchem zweiten Zeitpunkt das Signal gemessen werden soll. Des Weiteren umfasst die Vorrichtung einen Sensor (120) zum Durchführen einer aktuellen Messung des Signals genau während des Zeitbereichs, der durch das aktuelle Messfenster definiert ist. Ferner umfasst die Vorrichtung eine Auswerteeinheit (130), zum Bestimmen eines aktuellen Messergebnisses der aktuellen Messung. Die Messfenster-Bestimmungseinheit (110) ist ausgebildet, das aktuelle Messfenster abhängig von einem vorangegangenen Messergebnis einer vorangegangenen Messung zu bestimmen, wobei die vorangegangene Messung genau während eines Zeitbereichs durchgeführt wurde, der durch ein vorheriges Messfenster definiert ist.
Inventor(s)
Schierbaum, Nicolas Peter
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Ligges, Manuel  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Seidl, Karsten  
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Rottmann, Jonas David  orcid-logo
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Dung, Justus Felix
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
Link to:
Espacenet
Patent Number
DE102024211539 A1
Publication Date
June 3, 2026
Language
German
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS  
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