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Patent
Title
Vorrichtung und Verfahren zur Messung exponentiell abklingender und ansteigender Prozesse mit zählenden Systemen mit begrenztem Dynamikbereich
Abstract
Eine Vorrichtung zur Messung eines exponentiell abklingenden Prozesses oder eines exponentiell ansteigenden Prozesses gemäß einer Ausführungsform wird bereitgestellt. Die Vorrichtung umfasst eine Messfenster-Bestimmungseinheit (110) zum Bestimmen eines aktuellen Messfensters, wobei das aktuelle Messfenster einen Zeitbereich definiert, der dadurch bestimmt ist, ab welchem ersten Zeitpunkt nach der Anregung einer Signalquelle eines Signals und bis zu welchem zweiten Zeitpunkt das Signal gemessen werden soll. Des Weiteren umfasst die Vorrichtung einen Sensor (120) zum Durchführen einer aktuellen Messung des Signals genau während des Zeitbereichs, der durch das aktuelle Messfenster definiert ist. Ferner umfasst die Vorrichtung eine Auswerteeinheit (130), zum Bestimmen eines aktuellen Messergebnisses der aktuellen Messung. Die Messfenster-Bestimmungseinheit (110) ist ausgebildet, das aktuelle Messfenster abhängig von einem vorangegangenen Messergebnis einer vorangegangenen Messung zu bestimmen, wobei die vorangegangene Messung genau während eines Zeitbereichs durchgeführt wurde, der durch ein vorheriges Messfenster definiert ist.
Inventor(s)
Schierbaum, Nicolas Peter
Dung, Justus Felix
Link to:
Patent Number
DE102024211539 A1
Publication Date
June 3, 2026
Language
German