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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Anordnung zur optischen Erfassung und/oder Prüfung eines Werkstücks

Abstract
Die Erfindung betrifft eine Anordnung (1) zur optischen Erfassung und/oder Prüfung eines Werkstücks (2) umfassend einen Untersuchungsbereich zur Aufnahme des Werkstücks (2), eine optische Erfassungseinheit (3) zur optischen Erfassung des im Untersuchungsbereich angeordneten Werkstücks (2) und wenigstens eine Beleuchtungseinheit (5a; 5b). Die Beleuchtungseinheit (5a; 5b) weist wenigstens eine Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d), ein Reflexionselement (11a, 11b) mit einer diffus reflektierenden Reflexionsoberfläche und ein Lichtauslasselement (13a; 13b), durch das ein Lichtbündel (9a; 9b) mit von der Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d) emittiertem Licht in den Untersuchungsbereich abgegeben werden kann. Die Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d) und das Reflexionselement (13a; 13b) sind derart angeordnet, dass das abgegebene Lichtbündel (9a; 9b) im Wesentlichen nur von der Lichtquelle (10a; 10b; 10c; 10d) emittiertes Licht umfasst, das an der Reflexionsoberfläche des Reflexionselements (13a; 13b) reflektiert worden ist.
Inventor(s)
Roemer, Urs  
Kühn, Tobias  
Kaphengst, Marvin
Link to Espacenet
https://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&FT=D&CC=DE&NR=102019129623A1
Patent Number
102019129623
Publication Date
2021
Language
German
Fraunhofer-Institut für Fertigungstechnik und Angewandte Materialforschung IFAM  
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