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Fraunhofer-Gesellschaft
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Patent
Title

Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines transparenten Objekts

Other Title
Transparent object measuring device e.g. for defining jet level production mechanism, has first profile line at front surface of transparent object and second profile line at rear surface with radiation provided from jet
Abstract
Eine Vorrichtung zur Vermessung eines transparenten Objekts wird beschrieben. Diese umfasst eine Strahlenebenenerzeugungseinrichtung zum Erzeugen einer Strahlenebene, die das transparente Objekt schneidet, um eine erste Profillinie an einer vorderen Flaeche des transparenten Objekts und eine zweite Profillinie an einer hinteren Flaeche des transparenten Objekts zu definieren, an der Strahlung der Strahlenebene gestreut wird. Eine Aufnahmeeinrichtung ist vorgesehen, um die an der ersten und der zweiten Profillinie gestreute Strahlung aus einer vorbestimmten Blickrichtung schraeg zur Strahlenebene aufzunehmen, um eine Profillinienaufnahme der ersten und zweiten Profillinie zu erhalten. Ferner umfasst die Vorrichtung eine Auswerteeinrichtung zur Auswertung der Profillinienaufnahme, um, basierend auf derselben, ein Vermessungsergebnis fuer das transparente Objekt zu erhalten, das auf die vordere Flaeche und die hintere Flaeche des transparenten Objekts bezogen ist.

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DE 102005052044 A1 UPAB: 20070822 NOVELTY - The device has a first profile line (54) at a front surface (28a, 28c) of a transparent object (24) and a second profile line at a rear surface (28b) with radiation provided from a jet (14). A mechanism (18, 16) receives radiation from a pre-determined line of sight from the profile lines diagonally to the jet level, in order to receive a profile line of the profile lines. A computer (44) evaluates the profile line admission to receive a measurement result for the transparent object. The result is related to the front surface and the rear surface of the transparent object. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is included for a method, and a computer program. USE - For defining jet level production mechanism to produce jet level which cuts transparent object. ADVANTAGE - Allows quickly relatively precise measurements based on front and rear surface.
Inventor(s)
Muenzenmayer, C.
Rupp, S.
Spinnler, K.
Flachmann, M.
Couronne, R.
Link to:
Espacenet
Patent Number
102005052044
Publication Date
2007
Language
German
Fraunhofer-Institut für Integrierte Schaltungen IIS  
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