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Patent
Title
Einrichtung zur Ermittlung von Positionen oder Trajektorien eines oder mehrerer Partikel
Abstract
Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zur Ermittlung von Positionen eines oder mehrerer Partikel, insbesondere zur Verfolgung eines oder mehrerer Partikel (17) auf Trajektorien, mit einem ersten 2D-Laserscanner (1, 3, 4), der dazu eingerichtet ist, mit einem ersten Laserstrahl (6) durch Auslenken eines ersten Ablenkspiegels (4) mit steuerbaren Auslenkwinkeln ein erstes Volumen zu überstreichen, und mit einem zweiten 2D-Laserscanner (10, 12, 13), der dazu eingerichtet ist, mit einem zweiten Laserstrahl (15) ein zweites Volumen durch Auslenken eines zweiten Ablenkspiegels (13) mit steuerbaren Auslenkwinkeln zu überstreichen, wobei das erste und das zweite Volumen sich in einem Messvolumen (25) überschneiden, wobei der erste und der zweite Laserscanner vom Messvolumen aus betrachtet in verschiedenen Richtungen angeordnet sind, wobei wenigstens eine Erfassungsvorrichtung (19, 20, 21, 22, 23, 24) zur Erfassung des innerhalb des Messvolumens durch Partikel (17) reflektierten oder gestreuten Lichts des ersten und zweiten Laserscanners vorgesehen ist, wobei das reflektierte oder gestreute Licht des ersten und des zweiten Laserscanners von der wenigstens einen Erfassungsvorrichtung unterscheidbar ist und wobei mit der/den Erfassungseinrichtung(en) eine Verarbeitungseinrichtung (26) verbunden ist, die dazu eingerichtet ist, durch Erfassen von innerhalb eines festgelegten Positionier-Zeitfensters durch ein Partikel (17) reflektiertem Licht aus beiden Laserscannern jedem Partikel (17) räumliche Koordinaten zuzuordnen. Mit der Einrichtung können für Partikel im Messvolumen räumliche Koordinaten bestimmt werden.
Inventor(s)
Janes, Joachim
Huth, Christoph
Patent Number
102018217530
Publication Date
2020
Language
German