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Verfahren zum Betreiben eines Logik- und Speicherelemente aufweisenden Bausteins

Method for operating a logic and memory element containing integrated circuit including normal and test operation using a self-test mode with time multiplexing of operating modes.
 
: Krueger, R.; Merchant, K.; Mayer, F.

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DE 2000-10037992 A: 20000803
DE 2000-10037992 A: 20000803
EP 2001-117701 A: 20010726
DE 10037992 A1: 20020221
EP 1178321 B1: 20041201
G06F0011
G01R0031
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IIS ()

Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben eines Logik- und Speicherelemente aufweisenden Bausteins oder einer Logik- und Speicherelemente aufweisenden Baugruppe, wobei die Ausfuehrung ein- oder mehrkanalig erfolgen kann. Der Baustein bzw. die Baugruppe ist in verschiedenen Betriebsarten betreibbar, von denen eine der Normalbetrieb und eine weitere ein Online-Selbsttestbetrieb ist. Die verschiedenen Betriebsarten werden im Zeitmultiplex wiederholt durchgefuehrt. Im Online-Selbsttestbetrieb wird eine Veraenderung der Ausgangszustaende der Testgruppen und damit des gesamten Bausteins bzw. der gesamten Baugruppe verhindert. Dadurch ist ein Dauerbetrieb moeglich. Die durch den Selbsttest-Betrieb veraenderten internen Zustaende von Testgruppen werden am Ende der Testphase aus zwischengespeicherten Zustaenden wiederhergestellt.

 

EP 1178321 A UPAB: 20020626 NOVELTY - Method in which a component or component group can be operated in different modes including normal mode and online self-test mode. The operating time of the component or group is divided into time slots, so that operating modes can be time multiplexed. From logic and memory elements of the component test groups are formed and when a self test is completed normal operating states are reset from values stored in an intermediate memory. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is made for a component or component group comprising a multitude of memory and logic elements using a test logic with at the end of testing internal states reset from an intermediate memory. USE - Method for operating a logic and memory component with continuous operating during testing possible. ADVANTAGE - Test operation of ASICs is improved.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-72735.html